Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer Verlag, 2007

0387465464 / 9780387465463

Serie: Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 6 de enero de 2003

Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 316,12

Envío por EUR 14,98 
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 2 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.

N° de ref. del artículo x-0387465464

Título
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Autor
Sachdev, Manoj/ de Gyvez, Jose Pineda
Editorial
Springer Verlag
Año de publicación
2007
Estado
Brand New
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
0387465464
ISBN 13
9780387465463
Edición
2ª Edición
Peso del artículo
0,73 kilogramos
Serie
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Revaluation Books

Exeter, Reino Unido

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 6 de enero de 2003

Tarifas de envío de Reino Unido a Estados Unidos de America

ArtículoDe 7 a 14 días hábilesDe 2 a 3 días hábiles
Primer artículoEUR 14,98EUR 35,96
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Información empresarial del vendedor

Edward Bowditch Ltd

Exstowe, Exton
Exeter, Reino Unido EX3 0PP