Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer US, 2010

1441942858 / 9781441942852

Serie: Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wide coverage of topics in test engineeringUnique defect-oriented focus of the materialsIntroduction to yield engineering common practicesThe 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New cha.

N° de ref. del artículo 4174637

Título
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor
Manoj Sachdev|José Pineda de Gyvez
Editorial
Springer US
Año de publicación
2010
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa blanda
Idioma
inglés
ISBN 10
1441942858
ISBN 13
9781441942852
Serie
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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