9780123705976 - vlsi test principles and architectures: design for testability (the morgan kaufmann series in systems on silicon) de wang, laung-terng; wu, cheng-wen; wen, xiaoqing (10 resultados)
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Condición: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Wang, Laung-terng (Editor)/ Wu, Cheng-Wen (Editor)/ Wen, Xiaoqing (Editor)
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
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hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
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Condición: gut. 2006. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) In englischer Sprache. pages.
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