Vollertsen rolf (24 resultados)
Editorial: Verlag Nürnberger Presse, Nürnberg, 1984
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Añadir al carrito96 S 21,2x14,3cm, illustr. Hardcover, Farbfotos auf Tafeln, sauberer Buchzustand.
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Editorial: U. E. Sebald Druck und Verlag, 1993
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Gut. Illustrierter und folierter Pappband mit Titel auf Vorderdeckel und Rücken, gebunden, mit vielen ganzseitigen Farb-Foto-Bildern, am Schluß mit Bilderläuterungen, Quadratformat: 23,5x23,5 cm, 132 Seiten, guter Zustand. (intern: Völkerkunde).
Idioma: Alemán
Editorial: Nürnberg, Verlag Nürnberger Presse, ca.1984., 1984
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Añadir al carrito1 Bl., 96 S., 1 Bl. Mit 31 ganzseitigen Farbfotos und 2 Karten. Farbig illustr. OPpbd. - In sehr guter Erhaltung. 280 Gramm.
Idioma: Alemán
Editorial: Nürnberger Presse, Nürnberg,, 1993
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Librería: Buchhandlung Neues Leben, Salzburg, S, AustriaBuchhandlung Neues Leben
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Añadir al carritoCondición: Gut. Insgesamt gutes, ordentliches Exemplar. Lediglich leichte Spuren der Zeit am Einband. 132 SS., mit farb. Abb., gr.-8°, OPp., Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
Editorial: Nürnberg Nürnberger Presse Verlag ca, 1983
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Añadir al carritofester Einband. Condición: Gut. Pappband, leichte Gebrauchsspuren, guter altersgem. Zustand. Text und farbige Fotos 230 gr.
Editorial: Verlag Nürnberger Presse, Nürnberg, 1983, 1983
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Librería: Antiquariat am Münster G. u. O. Lowig, Heilsbronn, DE, AlemaniaAntiquariat am Münster G. u. O. Lowig
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Gut. sehr gut erhalten; Sprache: deutsch; lgk 1321_Lowig;HC, durchgehend mit wunderschönen ganzseitigen Farb-Fotos illustriert, 96 S 350 Gramm.
Editorial: Verlag Nürnberger Presse, 1993, 1993
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Gut. sehr gut erhalten; Sprache: deutsch; lgk 188_Hahn;HC 1. Aufl., Format: 23,5x23,5cm, die Landesarbeitsgemeinschaft Mali hat mit dem Erlös beim Verkauf dieses Buches verschiedene Projekte unterstützt, durchgehend mit farbigen Fotos illustriert, 131 S 450 Gramm.
Idioma: Alemán
Editorial: Selbstverlag, Burgthann, 1993
Librería: Norbert Kretschmann, Bad Aibling, AlemaniaNorbert Kretschmann
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Editorial: Selbstverlag, Burgthann,, 1993
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Librería: Sigrun Wuertele buchgenie_de, Altenburg, AlemaniaSigrun Wuertele buchgenie_de
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Añadir al carritoCondición: sehr gut - gebraucht. Gebundene Ausgabe Sehr guter Zustand, ohne Namenseintrag Zustand: 2, sehr gut - gebraucht, Gebundene Ausgabe Selbstverlag, Burgthann, , 1993 , Wohin die Tropfen fallen oder: Baissimila, ce koroba! Notizen aus und über Mali, Vollertsen, Rolf.
Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch III, Stewart E.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-peter; Sune, Jordi; La Rosa, Guiseppe
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-peter; Sune, Jordi; La Rosa, Guiseppe
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch III, Stewart E.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-peter; Sune, Jordi; La Rosa, Guiseppe
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Strong, Alvin W., Wu, Ernest Y., Vollertsen, Rolf-Peter, Sun
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W./ Wu, Ernest Y./ Vollertsen, Rolf-peter/ Sune, Jordi/ La Rosa, Guiseppe
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-peter; Sune, Jordi; La Rosa, Guiseppe
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Editorial: Eigenverlag, Burgthann, 1993
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Librería: Antiquariat Kastanienhof, Pirna, AlemaniaAntiquariat Kastanienhof
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Editorial: Verlag Nürnberger Presse um,, 1983
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Editorial: Burgthann, Selbstverlag,, 1993
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W./ Wu, Ernest Y./ Vollertsen, Rolf-peter/ Sune, Jordi/ La Rosa, Guiseppe
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.
