Sudeb dasgupta (68 resultados)
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EUR 70,98
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Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 88,23
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Condición: New. pp. 154.
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: StainesBookhub, Weybridge, SURRE, Reino UnidoStainesBookhub
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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EUR 126,35
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Condición: New.
Vlsi Design and Test : 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Kaushik, Brajesh Kumar (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 199 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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EUR 127,83
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 129,41
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Condición: New.
Vlsi Design and Test : 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4?6, 2019, Revised Selected Papers
Sengupta, Anirban (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT); Sharma, Rohit (EDT); Vishvakarma, Santosh Kumar (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 284 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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EUR 130,91
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Nature Singapore, 2019
Serie: Libro 284 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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OportunidadPrecio actual: EUR 26,21
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 792 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.…
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Nature Singapore, 2019
Serie: Libro 284 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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OportunidadPrecio actual: EUR 27,02
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 792 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.…
Vlsi Design and Test : 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Kaushik, Brajesh Kumar (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 199 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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EUR 133,84
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Condición: New.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 100,01
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Taschenbuch. Condición: Neu. Neuware - This book focusses on the spacer engineering aspects of novel MOS-based device-circuit co-design in sub-20nm technology node, its process complexity, variability, and reliability issues. It comprehensively explores the FinFET/tri-gate architectures with their circuit/SRAM suitability and tolerance to random statistical variations.…
Vlsi Design and Test : 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4?6, 2019, Revised Selected Papers
Sengupta, Anirban (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT); Sharma, Rohit (EDT); Vishvakarma, Santosh Kumar (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 284 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 138,55
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 140,97
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
- Tapa blanda
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 132,60
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 284 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 145,20
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 124,85
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.…
Más imágenesIdioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 199 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 95,50
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. VLSI Design and Test | 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers | Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2017 | Springer | EAN 9789811074691 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 166,95
Envío por EUR 3,56Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New.
Más imágenesIdioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 95,50
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. VLSI Design and Test | 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers | Ambika Prasad Shah (u. a.) | Taschenbuch | Communications in Computer and Information Science | xviii | Englisch | 2022 | Springer | EAN 9783031215131 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 199 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 124,85
Envío por EUR 43,73Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.…
VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 1719, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science, 1687)
Shah, Ambika Prasad (Editor) / Dasgupta, Sudeb (Editor) / Darji, Anand (Editor) / Tudu, Jaynarayan (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 163,26
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Paperback. Condición: Brand New. 614 pages. 9.25x6.10x1.42 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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EUR 170,65
Envío por EUR 9,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 284 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 134,20
Envío por EUR 43,24Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.…
Vlsi Design and Test: 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Kaushik, Brajesh Kumar (Editor)/ Dasgupta, Sudeb (Editor)/ Singh, Virendra (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag New York Inc, 2018
Serie: Libro 199 de 578 - Communications in Computer and Information Science
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 166,89
Envío por EUR 17,97Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. revised edition. 840 pages. 9.25x6.10x1.73 inches. In Stock.
