Tudu jaynarayan editor (1 resultados)
VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 1719, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science, 1687)
Shah, Ambika Prasad (Editor) / Dasgupta, Sudeb (Editor) / Darji, Anand (Editor) / Tudu, Jaynarayan (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2022
Serie: Libro 495 de 578 - Communications in Computer and Information Science
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 614 pages. 9.25x6.10x1.42 inches. In Stock.
