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Spacer Engineered Finfet Architectures : High-performance Digital Circuit Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 65,86
Envío por EUR 2,29
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 54,47
Envío por EUR 13,87
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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VLSI Design and Test : 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,98
Envío por EUR 17,93
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Spacer Engineered Finfet Architectures : High-performance Digital Circuit Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 73,76
Envío por EUR 2,29
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 68,33
Envío por EUR 7,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 154.
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 75,25
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 154.
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Spacer Engineered Finfet Architectures : High-performance Digital Circuit Applications
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 67,33
Envío por EUR 17,36
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Spacer Engineered Finfet Architectures : High-performance Digital Circuit Applications
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 71,28
Envío por EUR 17,36
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science)
Libro 495 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,31
Envío por EUR 13,87
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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VLSI Design and Test : 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers
Libro 495 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 100,86
Envío por EUR 17,93
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Spacer Engineered FinFET Architectures
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 69,16
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Libro 199 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,52
Envío por EUR 13,87
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 1066)
Libro 284 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,52
Envío por EUR 13,87
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers
Libro 284 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,56
Envío por EUR 17,93
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4¿6, 2019, Revised Selected Papers
Libro 284 de 578: Communications in Computer and Information ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Nature Singapore, 2019
ISBN 10: 9813297662 ISBN 13: 9789813297661
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 26,21
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 792 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
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VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4¿6, 2019, Revised Selected Papers
Libro 284 de 578: Communications in Computer and Information ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Nature Singapore, 2019
ISBN 10: 9813297662 ISBN 13: 9789813297661
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 27,02
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 792 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
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Vlsi Design And Test : 26th Internationa
Libro 495 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,60
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Spacer Engineered FinFET Architectures : High-Performance Digital Circuit Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Ltd Jun 2020, 2020
ISBN 10: 0367573555 ISBN 13: 9780367573553
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 85,58
Envío por EUR 62,27
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - This book focusses on the spacer engineering aspects of novel MOS-based device-circuit co-design in sub-20nm technology node, its process complexity, variability, and reliability issues. It comprehensively explores the FinFET/tri-gate architectures with their circuit/SRAM suitability and tolerance to random statistical variations.
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VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17?19, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science)
Libro 495 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 150,64
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Vlsi Design And Test : 23rd Internationa
Libro 284 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 145,20
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4?6, 2019, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 1066)
Libro 284 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 164,61
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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VLSI Design and Test | 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
Libro 199 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,15
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. VLSI Design and Test | 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers | Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2017 | Springer | EAN 9789811074691 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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VLSI Design and Test | 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers
Libro 495 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,15
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. VLSI Design and Test | 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers | Ambika Prasad Shah (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2022 | Springer | EAN 9783031215131 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 1719, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science, 1687)
Libro 495 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,31
Envío por EUR 14,47
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 614 pages. 9.25x6.10x1.42 inches. In Stock.
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Vlsi Design And Test : 26th Internationa
Libro 495 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,18
Envío por EUR 9,11
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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VLSI Design and Test | 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers
Libro 284 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 102,35
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. VLSI Design and Test | 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers | Anirban Sengupta (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789813297661 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Vlsi Design and Test: 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Libro 199 de 578: Communications in Computer and Information ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc, 2018
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,81
Envío por EUR 17,36
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. revised edition. 840 pages. 9.25x6.10x1.73 inches. In Stock.
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VLSI Design and Test : 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers
Libro 495 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,36
Envío por EUR 64,60
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
Libro 199 de 578: Communications in Computer and Information ScienceLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 116,27
Envío por EUR 66,24
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
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Spacer Engineered FinFET Architectures : High-Performance Digital Circuit Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 189,16
Envío por EUR 2,29
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
