Griscom david l (30 resultados)
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Editorial: Springer 2000
Serie: NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, Libro 4 de 241. Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Editorial: Springer 2000
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Editorial: Springer 2000
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Editorial: Dordrecht / Boston / London. Kluwer Academic Publishers. 2000. 2000
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Softcover. Hardcover 624 pages. with Figures and tables. In good clean, solid condition. Nato Science Series II. Mathematics, Physics and Chemistry Vol. 2. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000. in englischer Sprache (in english).
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Editorial: Springer 2000
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Taschenbuch. Condición: Neu. Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology | Gianfranco Pacchioni (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2000 | Springer | EAN 9780792366867 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Netherlands, Haberstr. 7, 69126 Heidelberg, buchhandel-buch[at]sprin…ger[dot]com | Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2000
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Editorial: Kluwer Academic Publishers 2000
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Editor(s): Pacchioni, G.; Skuja, Linards; Griscom, David L. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 624 pages, 87 black & white illustrations, biography. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP)…Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 235 x 155 x 34. Weight in Grams: 1061. . 2000. Hardback. . . . .
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
. Ed(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers 2000
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Editor(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 624 pages, 87 black & white illustrations, biography. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (G) General (US: Trade); (P)… Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 153 x 20. Weight in Grams: 892. . 2000. Softcover reprint of the original 1st ed. 2000. Paperback. . . . .
Idioma: Inglés
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point de…fects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands, Springer Netherlands 2000
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects,…which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers 2000
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Editor(s): Pacchioni, G.; Skuja, Linards; Griscom, David L. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 624 pages, 87 black & white illustrations, biography. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP)…Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 235 x 155 x 34. Weight in Grams: 1061. . 2000. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Defects in Si02 and Related Dielectrics: Science and Technology
Pacchioni, G. (Editor)/ Skuja, L. (Editor)/ Griscom, D. L. (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Pub 2000
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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
. Ed(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers 2000
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Editor(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 624 pages, 87 black & white illustrations, biography. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (G) General (US: Trade); (P)… Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 153 x 20. Weight in Grams: 892. . 2000. Softcover reprint of the original 1st ed. 2000. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and… medical applications to metal-ox.
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Editorial: Springer Netherlands 2000
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Editorial: Springer Netherlands Dez 2000 2000
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Editorial: Springer Netherlands Dez 2000 2000
Serie: NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, Libro 4 de 241. Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly…involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy. 636 pp. Englisch.
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Editorial: Springer Netherland 2000
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Buch. Condición: Neu. Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology | Gianfranco Pacchioni (u. a.) | Buch | NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry | viii | Englisch | 2000 | Springer Netherland | EAN 9780792366850 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17,…69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Editorial: Springer Netherlands, Springer Dez 2000 2000
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Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
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Editorial: Springer Netherlands, Springer Netherlands Dez 2000 2000
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