Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology

Libro 4 de 241: NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry

. Ed(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L.

ISBN 10: 0792366867 ISBN 13: 9780792366867
Editorial: Kluwer Academic Publishers, 2000
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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