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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces.
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces (NanoScience and Technology)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : Application to Rough and Natural Surfaces
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : Application to Rough and Natural Surfaces
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : Application to Rough and Natural Surfaces
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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ATOMIC FORCE MICROSCOPY, SCANNING NEARFI
Librería: Speedyhen, Hertfordshire, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : Application to Rough and Natural Surfaces
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, DE, 2010
ISBN 10: 3642066631 ISBN 13: 9783642066634
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces (NanoScience and Technology)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching | Application to Rough and Natural Surfaces
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching | Application to Rough and Natural Surfaces | Gerd Kaupp | Taschenbuch | xii | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9783642066634 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642066631 ISBN 13: 9783642066634
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoCondición: New. Presents the full range of application of nano-optic methods to studies in physics, chemistry, materials science, biology and medicineMaking a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph d.
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : Application to Rough and Natural Surfaces
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642066631 ISBN 13: 9783642066634
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm. New or improved instrumentation, new physical laws and unforeseen new applications in all branches of natural sciences (around physics, chemistry, mineralogy, materials science, biology and medicine) and nanotechnology are covered as well as the sources for pitfalls and errors. It outlines the handling of natural and technical samples in relation to those of flat standard samples and emphasizes new special features. Pitfalls and sources of errors are clearly demonstrated as well as their efficient remedy when going from molecularly flat to rough surfaces. The academic or industrial scientist learns how to apply the principles for tackling their scientific or manufacturing tasks that include roughness far away from standard samples.
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2006
ISBN 10: 3540284052 ISBN 13: 9783540284055
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : Application to Rough and Natural Surfaces
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2006
ISBN 10: 3540284052 ISBN 13: 9783540284055
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm. New or improved instrumentation, new physical laws and unforeseen new applications in all branches of natural sciences (around physics, chemistry, mineralogy, materials science, biology and medicine) and nanotechnology are covered as well as the sources for pitfalls and errors. It outlines the handling of natural and technical samples in relation to those of flat standard samples and emphasizes new special features. Pitfalls and sources of errors are clearly demonstrated as well as their efficient remedy when going from molecularly flat to rough surfaces. The academic or industrial scientist learns how to apply the principles for tackling their scientific or manufacturing tasks that include roughness far away from standard samples.
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, DE, 2010
ISBN 10: 3642066631 ISBN 13: 9783642066634
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 228,77
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New. 1st ed. Softcover of orig. ed. 2006. Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm. New or improved instrumentation, new physical laws and unforeseen new applications in all branches of natural sciences (around physics, chemistry, mineralogy, materials science, biology and medicine) and nanotechnology are covered as well as the sources for pitfalls and errors. It outlines the handling of natural and technical samples in relation to those of flat standard samples and emphasizes new special features. Pitfalls and sources of errors are clearly demonstrated as well as their efficient remedy when going from molecularly flat to rough surfaces. The academic or industrial scientist learns how to apply the principles for tackling their scientific or manufacturing tasks that include roughness far away from standard samples.
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces (Nanoscience and Technology)
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces (NanoScience and Technology)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2006
ISBN 10: 3540284052 ISBN 13: 9783540284055
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Feb 2010, 2010
ISBN 10: 3642066631 ISBN 13: 9783642066634
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces (Nanoscience and Technology)
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Berlin Heidelberg Feb 2010, 2010
ISBN 10: 3642066631 ISBN 13: 9783642066634
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 308 239 Illus.
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 297,43
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