Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces (NanoScience and Technology)

Kaupp, Gerd

ISBN 10: 3540284052 ISBN 13: 9783540284055
Editorial: Springer, 2006
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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