Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2006

3540284052 / 9783540284055

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm. New or improved instrumentation, new physical laws and unforeseen new applications in all branches of natural sciences (around physics, chemistry, mineralogy, materials science, biology and medicine) and nanotechnology are covered as well as the sources for pitfalls and errors. It outlines the handling of natural and technical samples in relation to those of flat standard samples and emphasizes new special features. Pitfalls and sources of errors are clearly demonstrated as well as their efficient remedy when going from molecularly flat to rough surfaces. The academic or industrial scientist learns how to apply the principles for tackling their scientific or manufacturing tasks that include roughness far away from standard samples. 292 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9783540284055

Título
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Autor
Gerd Kaupp
Editorial
Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer
Año de publicación
2006
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
3540284052
ISBN 13
9783540284055
Peso del artículo
606 gramos
Dimensiones
237x161x27 mm

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