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Pharmacy Law Digest
Librería: ZBK Books, Carlstadt, NJ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 29,72
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Añadir al carritoCondición: good. Fast & Free Shipping â" Good condition. It may show normal signs of use, such as light writing, highlighting, or library markings, but all pages are intact and the book is fully readable. A solid, complete copy that's ready to enjoy.
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BAUDELAIRE RIMBAUD VERLAINE Selected Verse and Prose Poems
Publicado por THE CITADEL P RESS, NY, 1947
Librería: Gian Luigi Fine Books, Albany, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 11,58
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Añadir al carritoHardcover. Condición: VG. Estado de la sobrecubierta: Good. small edge chips to the unclipped dj, clean copy.
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Sexology: Sex Science Magazine. An Authoritative Guide to Sex Education. Volume 19, No. 3 (October 1952)
Publicado por Sexology Magazine, New York, 1952
Librería: Cat's Cradle Books, Archdale, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,88
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Añadir al carritoEphemera. Soundly stapled binding. Pages clean, tanned. Wrappers tanned with light edge wear, light handling wear, overall light shelf wear. Contents: Gernsback, When is abortion legal? Wilson, Female sexual crimes. Secor, Artificial male organ. Bernstein, Menstruation without pain. Mozes, Eugene B., Premature birth, part 2. Cauldwell, The mechanics of mongolism. Winfield, Kidney stones. Branson, If you are Rh negative. Questions and answers, book reviews, sexological news, so they say, scientific sex notes. ; Line drawings, photographs; 7.5" (19 cm) tall; 64 pages. Very Good in No Dust Jacket dust jacket.
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Armies on Wheels
Publicado por William Morrow and Co., New York, 1941
Librería: Saucony Book Shop, Kutztown, PA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 22,35
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Near Fine. Estado de la sobrecubierta: Good. Col. Francis Arnoldy and Joseph Bernstein Ilustrador. 1st Edition. Tan textured paper-covered boards, lettered in red. 4th ptg.: Sept. 1943. Minor rubbing to extremities, slight moisture mark along lower front cover fore-edge. Firm binding, unmarked interior. Illus. dust jacket G with chipped spine extremities, corners rubbed, modest surface marks and rubs, 1" closed tear and related crease along bottom front panel edge, now in mylar. 251 pp. Size: 8vo - over 7¾" - 9¾" tall. Book.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,78
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 69,44
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,03
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The Korean Electronics Industry
Libro 3 de 3: The Electronics Industry Research SeriesLibrería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 75,48
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Harpers Monthly Magazine May 1930 / Philip S Bernstein "Religion In Russia" / Genevieve Parkhurst "German Women In Politics" / Bertrand Russell "Why Is Modern Youth Cynical?" / Owen Wister "Roosevelt And The 1912 Disaster" / Roark Bradford "Come Day. Go Day" (story) / Joseph Stagg Lawrence "The Futility Of Farm Relief" / Lee Foster Hartman "Master Builder" (story) / Katharine Fullerton Gerould "Our Substitute Live" / Myron M Stearns "Two Flights In The Fog" / Letitia Preston Randall "Rhapsody In Mauve" (story) / Brendan Lee "Fisherman's Luck" / John Langdon-Davies "Two Childhoods" / Louis L Dublin "Can We Extend The Life Span?"
Publicado por Harper & Brothers Publications, 1930
Librería: Shore Books, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Revista / Publicación
EUR 38,15
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Añadir al carritoSoft cover. Condición: Very Good. 128 pages + 130 pages of 1930s period advertising. Philip S Bernstein "Religion In Russia" / Genevieve Parkhurst "German Women In Politics" / Bertrand Russell "Why Is Modern Youth Cynical?" / Owen Wister "Roosevelt And The 1912 Disaster" / Roark Bradford "Come Day. Go Day" (story) / Joseph Stagg Lawrence "The Futility Of Farm Relief" / Lee Foster Hartman "Master Builder" (story) / Katharine Fullerton Gerould "Our Substitute Live" / Myron M Stearns "Two Flights In The Fog" / Letitia Preston Randall "Rhapsody In Mauve" (story) / Brendan Lee "Fisherman's Luck" / John Langdon-Davies "Two Childhoods" / Louis L Dublin "Can We Extend The Life Span?" (U.P.).
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The Korean Electronics Industry
Libro 3 de 3: The Electronics Industry Research SeriesIdioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1997
ISBN 10: 0849331722 ISBN 13: 9780849331725
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 85,88
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 144 1st Edition.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 72,61
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The Korean Electronics Industry
Libro 3 de 3: The Electronics Industry Research SeriesIdioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1997
ISBN 10: 0849331722 ISBN 13: 9780849331725
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 85,22
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 144.
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The Korean Electronics Industry
Libro 3 de 3: The Electronics Industry Research SeriesLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 105,86
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 1st edition. 126 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 118,20
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The Korean Electronics Industry
Libro 3 de 3: The Electronics Industry Research SeriesLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,98
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,51
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 125,49
Envío por EUR 2,29
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Prediction for Microelectronics (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 117,37
Envío por EUR 6,80
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 20 disponibles
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Pharmacy Law Digest
Librería: SHIMEDIA, Brooklyn, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,08
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Reliability Prediction for Microelectronics (Quality and Reliability Engineering Series)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 121,00
Envío por EUR 13,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,50
Envío por EUR 17,36
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,88
Envío por EUR 17,36
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Inc, US, 2024
ISBN 10: 1394210930 ISBN 13: 9781394210930
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 149,41
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. RELIABILITY PREDICTION FOR MICROELECTRONICS Wiley Series in Quality and Reliability Engineering REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over the lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability. Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the 'physics of failure', combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing. Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find: Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditionsDetailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and moreNew multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 139,83
Envío por EUR 20,65
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Reliability Prediction for Microelectronics (Quality and Reliability Engineering Series)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 155,51
Envío por EUR 7,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 152,09
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2024. 1st Edition. hardcover. . . . . .
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Reliability Prediction for Microelectronics (Quality and Reliability Engineering Series)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 172,50
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 192,09
Envío por EUR 9,11
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2024. 1st Edition. hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,95
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 384 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Inc, US, 2024
ISBN 10: 1394210930 ISBN 13: 9781394210930
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,27
Envío por EUR 75,23
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. RELIABILITY PREDICTION FOR MICROELECTRONICS Wiley Series in Quality and Reliability Engineering REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over the lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability. Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the 'physics of failure', combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing. Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find: Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditionsDetailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and moreNew multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing.
