Bender emmanuel (16 resultados)
Editorial: Preuves, 1963
- Tapa blanda
Librería: Abraxas-libris, Bécherel, FranciaAbraxas-libris
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado
EUR 13,86
Envío por EUR 28,95Se envía de Francia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoRevue. Revue grand in-8 (25.5*18.5), dos broché, 96pp., Raymond Aron : Développement, rationalité et raison ; Roger Caillois : Approche du fantastique ; Hans Bender : En gondole (nouvelle) ; Alfred Frisch : L'équilibre Europe - Afrique : Jacques Carat : Les premiers adieux de Vilar ; Gerda Zeltner : Jean Cayrol, un romancier de…l'incertitude, etc. ; bon état. Livraison a domicile (La Poste) ou en Mondial Relay sur simple demande. Preuves.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 118,70
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 117,51
Envío por EUR 3,46Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 123,24
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 119,49
Envío por EUR 7,60Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New.
- Más imágenes
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 125,63
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 120,64
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 122,22
Envío por EUR 14,00Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Más imágenes
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 118,69
Envío por EUR 17,54Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Más imágenes
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino UnidoRarewaves.com USA
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 150,31
Gastos de envío gratisSe envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Hardback. Condición: New. RELIABILITY PREDICTION FOR MICROELECTRONICS Wiley Series in Quality and Reliability Engineering REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over th…e lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability. Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the 'physics of failure', combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing. Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find: Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditionsDetailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and moreNew multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 133,70
Envío por EUR 17,54Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
- Primera edición
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 152,09
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. 2024. 1st Edition. hardcover. . . . . .
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 191,90
Envío por EUR 9,10Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. 2024. 1st Edition. hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
Reliability Prediction for Microelectronics
Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 96,95
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 384 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
- Más imágenes
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 141,68
Envío por EUR 75,99Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Hardback. Condición: New. RELIABILITY PREDICTION FOR MICROELECTRONICS Wiley Series in Quality and Reliability Engineering REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over th…e lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability. Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the 'physics of failure', combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing. Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find: Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditionsDetailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and moreNew multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing.
Reliability Prediction for Microelectronics Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender
Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender
- Tapa dura
Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 289,90
Envío por EUR 39,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: gut. 2024. Reliability Prediction for Microelectronics In englischer Sprache. pages.
