Reliability Prediction for Microelectronics

Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender

ISBN 10: 1394210930 ISBN 13: 9781394210930
Editorial: John Wiley & Sons Inc, 2024
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Bueno Encuadernación de tapa dura

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