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Strategic and Competitive Analysis: Methods and Techniques for Analyzing Business Competition
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 5,62
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In poor condition, suitable as a reading copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1050grams, ISBN:9780130888525.
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Strategic and Competitive Analysis: Methods and Techniques for Analyzing Business Competition
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 7,63
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Añadir al carritoCondición: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1100grams, ISBN:9780131918726.
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Strategic and Competitive Analysis: Methods and Techniques for Analyzing Business Competition
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Management Applications of Modern Control Theory. Study in Mathematics & Managerial Economics, Volume 18.
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1974
ISBN 10: 0720433185 ISBN 13: 9780720433180
Librería: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 11,95
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Añadir al carritogebundene Ausgabe. Condición: Gut. 346 Seiten Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten Bibliothek und kann die entsprechenden Kennzeichnungen aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 680.
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Management applications of modern control theory (Studies in mathematical and managerial economics)
Idioma: Inglés
Publicado por Amderdam: Elsevier u.a., 1974
ISBN 10: 0444106200 ISBN 13: 9780444106209
Librería: Wimbauer Buchversand, Hagen, NRW, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 36,00
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Añadir al carritoLeinen. Condición: Befriedigend. xvii,346 Seiten exBibliotheksexemplar mit den üblichen Stempeln/Signaturen, Kanten gering bestossen, papierbedingte Seitenbräunung /// Standort Wimregal MIR-30571 ISBN 9780444106209 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 659.
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L'ENFANCE DES FRANCAIS D'ALGERIE AVANT 1962
Librería: Gallix, Gif sur Yvette, Francia
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 24,00
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Añadir al carritoCondición: Neuf.
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10 tools of decision-making(Chinese Edition)
Librería: liu xing, Nanjing, JS, China
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 63,61
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Añadir al carritopaperback. Condición: New. Paperback Pages Number: 174 Language: Chinese. 10 of the decision-making tool for the business of every manager and business owners to provide guidance. practical and easy to understand! You can use business analysis to address the most important strategic and tactical challenges. Do not have knuckled down to study higher mathematics or complicated theory! 10 of the decision-making tool will lead you through the entire process of business analysis. it uses plain language to explain every one .
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L'enfance des Francais d'Algérie avant 1962
Librería: LiLi - La Liberté des Livres, CANEJAN, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 6,90
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Añadir al carritoCondición: very good. Le livre peut montrer des signes d'usure dus a une utilisation constante, etre marque, porter des marques d'identification ou presenter plusieurs dommages esthetiques mineurs. vendeur professionnel; envoi soigne en 24/48h.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,47
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Añadir al carritoCondición: New.
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Reliability Prediction for Microelectronics (Quality and Reliability Engineering Series)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 124,87
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,29
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 119,07
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Reliability Prediction for Microelectronics (Quality and Reliability Engineering Series)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,61
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,57
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Reliability Prediction for Microelectronics
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Inc, US, 2024
ISBN 10: 1394210930 ISBN 13: 9781394210930
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,35
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. RELIABILITY PREDICTION FOR MICROELECTRONICS Wiley Series in Quality and Reliability Engineering REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over the lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability. Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the 'physics of failure', combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing. Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find: Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditionsDetailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and moreNew multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing.
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Reliability Prediction for Microelectronics (Quality and Reliability Engineering Series)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 157,41
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 152,09
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2024. 1st Edition. hardcover. . . . . .
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Reliability Prediction for Microelectronics (Quality and Reliability Engineering Series)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 172,88
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 194,43
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2024. 1st Edition. hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,95
Envío por EUR 105,00
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Añadir al carritoCondición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 384 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Reliability Prediction for Microelectronics
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Inc, US, 2024
ISBN 10: 1394210930 ISBN 13: 9781394210930
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 142,13
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. RELIABILITY PREDICTION FOR MICROELECTRONICS Wiley Series in Quality and Reliability Engineering REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over the lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability. Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the 'physics of failure', combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing. Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find: Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditionsDetailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and moreNew multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing.
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Programme de recherches en sciences humaines dans la région Rhône-Alpes. Observation du Changement Social et Culturel. La Croix - Rousse.
Librería: Librairie-Bouquinerie Le Père Pénard, Lyon, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 42,00
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Se envía de Francia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoEditions du c.n.r.s. - Centre National de la Recherche Scientifique, Etablissement Public Régional Rhône-Alpes Université Lyon II - 1980 - In-8 broché, couverture illustrée - 80 pages - Nombreuses illustrations en N&B, in et hors-texte, dans l'ouvrage Bon état - Petit frottement avec manque de matière sur la tranche latérale de la 4ème de couverture - Petite tâche d'encre au niveau du coin inférieur de la couverture.
