Manoj Sachdev
Artículos populares por Manoj Sachdev
Ver todas las ofertas-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits: 34 (Frontiers in Electronic Testing)
Sachdev, Manoj; Pineda De Gyvez, Jose
Precios de los artículos a partir de
Ver 28 ofertasEUR 15,23
-
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits: v. 10 (Frontiers in Electronic Testing)
Sachdev, Manoj
Precios de los artículos a partir de
Ver 2 ofertasEUR 86,92
Encuentra también
Antiguos o usados
