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vlsi test principles architectures de wang laung terng (15 resultados)
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wang laung terng
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vlsi test principles architectures
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 16,00
Convertir monedaEUR 10,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carrito1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Librería: diakonia secondhand, München, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 40,66
Convertir monedaEUR 12,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
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VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Publicado por Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Idioma: Inglés
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 69,08
Convertir monedaEUR 17,58 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
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VLSI Test Principles and Architectures
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 79,70
Convertir monedaEUR 10,38 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxx + 777 Illus.
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 81,54
Convertir monedaEUR 11,72 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
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VLSI Test Principles and Architectures
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 100,02
Convertir monedaEUR 9,90 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxx + 777.
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VLSI Test Principles and Architectures
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,39
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxx + 777.
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VLSI Test Principles and Architectures
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,41
Convertir monedaEUR 11,72 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Librería: SGS Trading Inc, Franklin Lakes, NJ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 119,93
Convertir monedaEUR 30,14 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. Textbook, May Have Highlights, Notes and/or Underlining, BOOK ONLYNO ACCESS CODE, NO CD, Ships with Emailed Tracking.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 65,28
Convertir monedaEUR 93,01 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 65,28
Convertir monedaEUR 93,01 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Librería: BennettBooksLtd, North Las Vegas, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 123,10
Convertir monedaEUR 37,89 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Librería: Toscana Books, AUSTIN, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 149,58
Convertir monedaEUR 25,83 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Publicado por Morgan Kaufmann Publishers, 2006
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Idioma: Inglés
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 320,03
Convertir monedaEUR 29,31 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New. New. book.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 68,50
Convertir monedaEUR 40,00 gastos de envío desde Italia a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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