VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))

Wang, Laung-Terng; Wu, Cheng-Wen; Wen, Xiaoqing

ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Editorial: Morgan Kaufmann, 2006
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Aceptable Encuadernación de tapa dura

Vendido por Goodwill Books, Hillsboro, OR, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 25 de agosto de 2000

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Condición: Usado - Aceptable

Precio: EUR 36,01 Convertir moneda
EUR 64,36 gastos de envío desde Estados Unidos de America a España Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito