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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,57
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,90
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,31
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 259 pages. 9.25x6.14x0.60 inches. In Stock.
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TESTING FOR SMALL-DELAY DEFECTS IN NANOSCALE CMOS INTEGRATED CIRCUITS
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 255,09
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 223,29
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 256,67
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 245,43
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 304,58
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 250 2nd Edition.
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 309,18
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 250 pages. 9.49x6.10x0.87 inches. In Stock.
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Goel, S: Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS I
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 318,80
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Inc Okt 2013, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 323,06
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Advances in design methods and process technologies are causing a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variation, power supply, noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DiM)-related rule violations. The book also addresses small-delay defects (SDDs) and testing, which can cause immediate failures if introduced on both critical and non-critical paths in the circuit.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 133,07
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Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,34
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Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 93,92
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,90
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advances in design methods and process technologies are leading to a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variations, power supply noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DfM)-related rule violations. The book also addresses testing for small-delay defects (SDDs), which can cause timing failures on both critical and non-critical paths in the circuit.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 289,05
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 250 This item is printed on demand.
