Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits

Chakrabarty, Krishnendu (EDT); Goel, Sandeep Kumar (EDT)

ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Editorial: CRC Press, 2013
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa dura

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