Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)

ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Editorial: CRC Press, 2013
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Aceptable Encuadernación de tapa dura

Vendido por HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 11 de marzo de 2019

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Condición: Usado - Aceptable

Precio:
EUR 206,71
Envío por EUR 3,22
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito