Structural syntactic statistical pattern de ana fred (25 resultados)
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 134,82
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 125,25
Envío por EUR 17,51Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 154,47
Envío por EUR 3,46Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 968.
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 95,25
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings | Dit-Yan Yeung (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2006 | Springer | EAN 9783540372363 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Yeung, Dit-Yan|Kwok, James T.|Fred, Ana|Roli, Fabio|Ridder, Dick de
- Tapa blanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 119,23
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006Collects 38 revised full papers and 61 revised p.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 160,74
Envío por EUR 17,51Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 939 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 166,40
Envío por EUR 17,44Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 184,13
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 178,09
Envío por EUR 17,44Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 178,08
Envío por EUR 17,51Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 197,14
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 154,13
Envío por EUR 40,52Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong, August 2006 alongside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more.…
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 192,21
Envío por EUR 17,51Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 192,42
Envío por EUR 17,51Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 182,81
Envío por EUR 29,19Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 216,47
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Excelente
EUR 123,70
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 1168 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
- Tapa blanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 181,66
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Invited Talks.- Finding Clusters and Components by Unsupervised Learning.- Kernel Methods for Exploratory Pattern Analysis: A Demonstration on Text Data.- The Use of Graph Techniques for Identifying Objects and Scenes in Indoor Building Environments for Mob.
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 250,31
Envío por EUR 3,46Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 1196.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 248,16
Envío por EUR 23,35Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 1168 pages. German language. 9.50x6.25x1.50 inches. In Stock.
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 106,99
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong, August 2006 alongside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more. 939 pp. Englisch. …
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 156,18
Envío por EUR 7,59Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand pp. 968 Illus.
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 160,23
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 968.
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 256,45
Envío por EUR 7,59Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand pp. 1196 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 261,70
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 1196.
