Dit yan yeung (16 resultados)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Taschenbuch. Condición: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings | Dit-Yan Yeung (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2006 | Springer | EAN 9783540372363 | Verantwortliche Person für die EU:…Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Yeung, Dit-Yan|Kwok, James T.|Fred, Ana|Roli, Fabio|Ridder, Dick de
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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Condición: New. Proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006Collects 38 revised full papers and 61 revised p.
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 939 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong, August 2006 alon…gside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more.
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de AmericaSolr Books
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong,…August 2006 alongside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more. 939 pp. Englisch.
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Condición: New. Print on Demand pp. 968 Illus.
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 968.
