Probabilistic theory pattern recognition de devroye luc (32 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer April 1996 1996
Serie: Stochastic Modelling and Applied Probability, Libro 1 de 30. Libro 1 de 30 - Stochastic Modelling and Applied Probability
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
Serie: Stochastic Modelling and Applied Probability, Libro 1 de 30. Libro 1 de 30 - Stochastic Modelling and Applied Probability
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013-11-22 2013
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
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Editorial: Springer 1996
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Editorial: Springer 1996
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
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Editorial: Humana 2013
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Taschenbuch. Condición: Neu. A Probabilistic Theory of Pattern Recognition | Luc Devroye (u. a.) | Taschenbuch | Stochastic Modelling and Applied Probability | xv | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781461268772 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]…springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Editorial: Springer 2014
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1996
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Editorial: Springer, Humana 2013
Serie: Stochastic Modelling and Applied Probability, Libro 1 de 30. Libro 1 de 30 - Stochastic Modelling and Applied Probability
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Pattern recognition presents one of the most significant challenges for scientists and engineers, and many different approaches have been proposed. The aim of this book is to provide a self-contained account of probabilistic analysis of these appro…aches. The book includes a discussion of distance measures, nonparametric methods based on kernels or nearest neighbors, Vapnik-Chervonenkis theory, epsilon entropy, parametric classification, error estimation, free classifiers, and neural networks. Wherever possible, distribution-free properties and inequalities are derived. A substantial portion of the results or the analysis is new. Over 430 problems and exercises complement the material.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1997
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Editorial: Springer 1996
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Editorial: Springer, Humana 1996
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Pattern recognition presents one of the most significant challenges for scientists and engineers, and many different approaches have been proposed. The aim of this book is to provide a self-contained account of probabilistic analysis of these approaches.…The book includes a discussion of distance measures, nonparametric methods based on kernels or nearest neighbors, Vapnik-Chervonenkis theory, epsilon entropy, parametric classification, error estimation, free classifiers, and neural networks. Wherever possible, distribution-free properties and inequalities are derived. A substantial portion of the results or the analysis is new. Over 430 problems and exercises complement the material.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
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Editorial: Springer, Springer Nov 2013 2013
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Pattern recognition presents one of the most significant challenges for scientists and engineers, and many different approaches have been proposed. The aim of this book is to provide a self-contained account of probabilistic analysi…s of these approaches. The book includes a discussion of distance measures, nonparametric methods based on kernels or nearest neighbors, Vapnik-Chervonenkis theory, epsilon entropy, parametric classification, error estimation, free classifiers, and neural networks. Wherever possible, distribution-free properties and inequalities are derived. A substantial portion of the results or the analysis is new. Over 430 problems and exercises complement the material. 660 pp. Englisch.
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Editorial: Springer New York 2013
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. A self-contained and coherent account of probabilistic techniques, covering: distance measures, kernel rules, nearest neighbour rules, Vapnik-Chervonenkis theory, parametric classification, and feature extraction. Eac…h chapter concludes with problems and ex.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
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Editorial: Springer, Humana Nov 2013 2013
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Pattern recognition presents a significant challege for scientists and engineers, and many different approaches have been proposed. This book provides a self-contained account of probabilistic techniques that have been applied to the su…bject. Researchers and graduate students will benefit from this wide-ranging account of the field.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 660 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Humana Apr 1996 1996
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Editorial: Springer New York 1996
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