Nonlinear transistor model parameter (10 resultados)
Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques (The Cambridge RF and Microwave Engineering Series)
Rudolph, Matthias [Editor]; Fager, Christian [Editor]; Root, David E. [Editor]
- Tapa dura
- Primera edición
Librería: Prior Books Ltd, Cheltenham, Reino UnidoPrior Books Ltd
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 42,30
Envío por EUR 25,81Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: Like New. First Edition. A firm, square and tight hardback with strong joints, just showing a few minor bumps and some mild cosmetic wear. Hence a non-text page is stamped 'damaged'. Despite such this book is actually in nearly new condition. Thus the contents are crisp, fresh and clean with no pen-marks. Now offered for sale at a very reasonable price.…
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 100,60
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 103,00
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 103,00
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado
EUR 141,74
Envío por EUR 3,55Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: Used. pp. 366.
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado
EUR 145,22
Envío por EUR 7,63Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: Used. pp. 366 273 Illus.
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado
EUR 145,64
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: Used. pp. 366.
Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques
Rudolph, Matthias (Editor)/ Fager, Christian (Editor)/ Root, David E. (Editor)
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 175,07
Envío por EUR 14,67Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 460 pages. 10.00x7.00x0.75 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 171,61
Envío por EUR 29,33Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Parameter Extraction Technology of Transistor Nonlinear Model(Chinese Edition)
[ DE ] MA DI YA SI LU DAO FU ( Matthias Rudolph ) . WANG YING . DONG SHI WEI . DONG YA ZHOU DENG YI
- Tapa blanda
Librería: liu xing, Nanjing, JS, Chinaliu xing
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 112,33
Envío por EUR 16,00Se envía de China a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
paperback. Condición: New. Paperback. Pub Date: 2020-10-01 Pages: 326 Language: Chinese Publisher: National Defense Industry Press Transistor Nonlinear Model Parameter Extraction Technology aims to provide a comprehensive overview of transistor model parameter extraction: On the one hand. the basic premise is the parameter The extraction is as important as the establishment of a physical model based on itself; on the other hand. even for different technologies. the extraction methods are often based on the same ideas a.…
