Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques (The Cambridge RF and Microwave Engineering Series)

Rudolph, Matthias [Editor]; Fager, Christian [Editor]; Root, David E. [Editor]

ISBN 10: 0521762103 ISBN 13: 9780521762106
Editorial: Cambridge University Press, 2011
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por Prior Books Ltd, Cheltenham, Reino Unido

Miembro de asociación:

Vendedor de AbeBooks desde 26 de julio de 2007

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Condición: Usado - Como Nuevo

Precio:
EUR 41,67
Envío por EUR 25,43
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito