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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 33,14
Convertir monedaEUR 10,23 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 34,25
Convertir monedaEUR 9,89 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 145,20
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,67
Convertir monedaEUR 17,19 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 8 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,92
Convertir monedaEUR 17,19 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 8 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 154,66
Convertir monedaEUR 17,34 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 8 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 170,42
Convertir monedaEUR 5,19 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,40
Convertir monedaEUR 17,34 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 8 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 174,97
Convertir monedaEUR 8,55 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 618.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 166,97
Convertir monedaEUR 17,33 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 181,19
Convertir monedaEUR 2,00 gastos de envío desde Irlanda a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 173,76
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por John Wiley & Sons, Ltd., 2015
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,43
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Idioma: Inglés
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 195,95
Convertir monedaEUR 2,31 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Idioma: Inglés
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 208,51
Convertir monedaEUR 2,31 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 147,74
Convertir monedaEUR 64,51 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Librería: Ubiquity Trade, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 190,19
Convertir monedaEUR 34,41 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Brand new! Please provide a physical shipping address.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 228,27
Convertir monedaEUR 1,89 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por Iste/Hermes Science Pub, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Idioma: Inglés
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 219,70
Convertir monedaEUR 11,56 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por Iste/Hermes Science Pub, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Idioma: Inglés
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 207,79
Convertir monedaEUR 11,56 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
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