Digital speckle pattern interferometry (21 resultados)

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Washington, Spie Press, 2003., 2003

    0819441104 / 9780819441102

    • Tapa dura
    • Primera edición

    Librería: Antiquariat Carl Wegner, Berlin, B, AlemaniaAntiquariat Carl Wegner

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    Hardcover. 26 x 18 cm. Original black cardboard ribbon. XVII, 310 pages with many monochrome illustrations. Apparently unused book in good condition. --- Schwarzer originaler Pappband. XVII, 310 Seiten mit vielen einfarbigen Abbildungen. Offenbar unbenutztes Exemplar in gutem Zustand. -- Bitte Portokosten außerhalb EU erfragen! / Please ask for postage costs outside EU! / S ' il vous plait demander des frais de port en dehors de l ' UE! // Bitte beachten Sie auch unsere Fotos! / Please also note our photos! / Veuillez noter nos photos -- Leuchtender Herbstbeginn! Wie wäre es mit einem guten Buch? Bei uns werden Sie fündig, stöbern Sie in unserem Ladengeschäft oder online. -- Wir kaufen Ihre werthaltigen Bücher! Tech.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2018

    6139873827 / 9786139873821

    • Tapa blanda

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    Paperback. Condición: Brand New. 56 pages. 8.66x5.91x0.13 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: SPIE Publications, 2003

    0819441104 / 9780819441102

    • Tapa dura

    Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Society of Photo Optical, 2002

    0819441104 / 9780819441102

    • Tapa dura

    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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    Hardcover. Condición: Brand New. illustrated edition. 330 pages. 10.00x7.25x1.00 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: SPIE Publications, 2003

    0819441104 / 9780819441102

    • Tapa dura

    Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: SPIE Publications, 2003

    0819441104 / 9780819441102

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    Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2018

    6139873827 / 9786139873821

    • Tapa blanda

    Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

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    Taschenbuch. Condición: Neu. Denoising in digital speckle pattern interferometry by Riesz wavelets | Abdelkrim Nassim (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2018 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786139873821 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: SPIE Publications, 2003

    0819441104 / 9780819441102

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    Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2001

    0471490520 / 9780471490524

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    Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark

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    Condición: Usado - Excelente

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    Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 384 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2000

    0471490520 / 9780471490524

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    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2000

    0471490520 / 9780471490524

    • Tapa dura
    • Primera edición

    Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.

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    Condición: New. The instructive nature of this volume should make it an excellent text for engineers and physicists. Extended bibliographies serve as an excellent source of information for those wanting to go into greater depth on a specific topic. Editor(s): Rastogi, Pramod. Num Pages: 384 pages, bibliographies. BIC Classification: PH; TBC; TTB. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 233 x 162 x 36. Weight in Grams: 732. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . .

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2000

    0471490520 / 9780471490524

    • Tapa dura

    Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons, 2000

    0471490520 / 9780471490524

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    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

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    EUR 544,99

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    Condición: New. this book is a welcome addition to the speckle pattern interferometry literature. The book is an excellent value for any graduate student, application engineer, research laboratory and group working in this field. Reading this book is a very enjoyable expe.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2000

    0471490520 / 9780471490524

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    Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore

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    EUR 713,99

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    Condición: New. The instructive nature of this volume should make it an excellent text for engineers and physicists. Extended bibliographies serve as an excellent source of information for those wanting to go into greater depth on a specific topic. Editor(s): Rastogi, Pramod. Num Pages: 384 pages, bibliographies. BIC Classification: PH; TBC; TTB. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 233 x 162 x 36. Weight in Grams: 732. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons Feb 2001, 2001

    0471490520 / 9780471490524

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    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Condición: Neu. Neuware - Ein modernes Buch für Ingenieure und Physiker! Theorie, Anwendung, Auswertung und spezielle Aspekte der Speckle-Interferometrie werden ausführlich erläutert. Eine umfangreiche Bibliographie erleichtert den Zugang zur weiterführenden Literatur. (11/00).

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons Inc, 2001

    0471490520 / 9780471490524

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    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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    EUR 751,10

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    Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 368 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing Jul 2018, 2018

    6139873827 / 9786139873821

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    Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Over the years, optical measurement techniques have been the problem-solving backbone of many engineering applications such as nondestructive testing of materials, measurement of various material properties, structural analysis, and experimental mechanics. Digital speckle pattern interferometry gives these measurements with high accuracy. The main challenges in speckle interferometry manifest on phase mapping estimation, leading to the direct determination of the measurement. Furthermore, fringes correlation are characterized by a strong speckle noise defined as a granular structure resulting from self-interference of coherent waves randomly scattered from a rough surface, making it capable of giving the measurement of physical magnitude with an accuracy of the order of wavelength used. For this reason, several papers are published annually in the speckle noise reduction domain. 56 pp. Englisch.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2018

    6139873827 / 9786139873821

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    • Impresión bajo demanda

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    EUR 58,59

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    Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Over the years, optical measurement techniques have been the problem-solving backbone of many engineering applications such as nondestructive testing of materials, measurement of various material properties, structural analysis, and experimental mechanics. Digital speckle pattern interferometry gives these measurements with high accuracy. The main challenges in speckle interferometry manifest on phase mapping estimation, leading to the direct determination of the measurement. Furthermore, fringes correlation are characterized by a strong speckle noise defined as a granular structure resulting from self-interference of coherent waves randomly scattered from a rough surface, making it capable of giving the measurement of physical magnitude with an accuracy of the order of wavelength used. For this reason, several papers are published annually in the speckle noise reduction domain.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing Jul 2018, 2018

    6139873827 / 9786139873821

    • Tapa blanda
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    Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

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    EUR 39,90

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    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Over the years, optical measurement techniques have been the problem-solving backbone of many engineering applications such as nondestructive testing of materials, measurement of various material properties, structural analysis, and experimental mechanics. Digital speckle pattern interferometry gives these measurements with high accuracy. The main challenges in speckle interferometry manifest on phase mapping estimation, leading to the direct determination of the measurement. Furthermore, fringes correlation are characterized by a strong speckle noise defined as a granular structure resulting from self-interference of coherent waves randomly scattered from a rough surface, making it capable of giving the measurement of physical magnitude with an accuracy of the order of wavelength used. For this reason, several papers are published annually in the speckle noise reduction domain.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 56 pp. Englisch.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley, 2000

    0471490520 / 9780471490524

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    Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK

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    EUR 504,47

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    HRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons Inc, New York, 2000

    0471490520 / 9780471490524

    • Tapa dura
    • Primera edición
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    Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino UnidoCitiRetail

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    Hardcover. Condición: new. Hardcover. Digital Speckle Interferometry and Related Techniques provides a single source of information in this rapidly progressing field. Containing contributions from leading experts, it provides the key background information, including the fundamental concepts, techniques, and applications, and presents the major technological progress that has contributed to revitalization in the field over the past fifteen years, including digital speckle photography and digital holographic interferometry. The instructive nature of this volume should make it an excellent text for engineers and physicists. Extended bibliographies serve as an excellent source of information for those wanting to go into greater depth on a specific topic. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.