Circuit design reliability (64 resultados)
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Librería: Recycle Bookstore, San Jose, CA, Estados Unidos de AmericaRecycle Bookstore
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Hardcover. Condición: Very Good. Book has light rubbing and surface scratches to covers and mild sunfading to spine but is otherwise in very good condition with strong binding and clean, bright, unmarked pages that look and feel unread. A sharp copy overall. Photos available upon request.
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Librería: Carpe Diem Fine Books, ABAA, Monterey, CA, Estados Unidos de AmericaCarpe Diem Fine Books, ABAA
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Hardcover. Condición: As New copy in dust jacket. Second Printing. Octavo; xxxi, 426 pages.
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Condición: New. pp. 106.
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 112 pages. 9.00x6.00x0.50 inches. In Stock.
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Taschenbuch. Condición: Neu. CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability | Jiann-Shiun Yuan | Taschenbuch | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology | vi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9789811008825 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot…]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and cir…cuits. This proposed book is unique to explore typical reliability issues in the device and technology level and then to examine their impact on RF wireless transceiver circuit performance. Analytical equations, experimental data, device and circuit simulation results will be given for clear explanation. The main benefit the reader derive from this book will be clear understanding on how device reliability issues affects the RF circuit performance subjected to operation aging and process variations.
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 111,70
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Condición: New. In.
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 116,63
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EUR 113,44
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EUR 116,24
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino UnidoAnybook.com
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EUR 103,53
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Condición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:0890065276.
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 142,60
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Condición: New. pp. xi + 127.
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Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaHPB-Red
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Hardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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Gebunden. Condición: New. InhaltsverzeichnisYield calculating yield statistical sensitivity yield optimization statistical modeling case studies and examples.KlappentextA reference for anyone involved with microwave design. It tac.
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 272 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Taschenbuch. Condición: Neu. Circuit Design for Reliability | Ricardo Reis (u. a.) | Taschenbuch | vi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9781493941568 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 109,99
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with technique…s for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.
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Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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EUR 168,46
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Paperback. Condición: Brand New. reprint edition. 278 pages. 9.25x6.10x0.66 inches. In Stock.
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
