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Sinopsis
This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.
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This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.
- Provides comprehensive review on various reliability mechanisms at sub-45nm nodes;
- Describes practical modeling and characterization techniques for reliability;
- Includes thorough presentation of robust design techniques for major VLSI design units;
- Promotes physical understanding with first-principle simulations.
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Circuit Design for Reliability
Publicado por
Springer New York Nov 2014, 2014
ISBN 10: 1461440777
ISBN 13: 9781461440772
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management. 280 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9781461440772
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides comprehensive review on various reliability mechanisms at sub-45nm nodesDescribes practical modeling and characterization techniques for reliabilityIncludes thorough presentation of robust design techniques for major VLSI design un. Nº de ref. del artículo: 4198323
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Springer, Springer Nov 2014, 2014
ISBN 10: 1461440777
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 280 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9781461440772
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