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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability (SpringerBriefs in Reliability) - Tapa blanda
Sinopsis
The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits. This proposed book is unique to explore typical reliability issues in the device and technology level and then to examine their impact on RF wireless transceiver circuit performance. Analytical equations, experimental data, device and circuit simulation results will be given for clear explanation. The main benefit the reader derive from this book will be clear understanding on how device reliability issues affects the RF circuit performance subjected to operation aging and process variations.
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Acerca del autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability (eng)
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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability
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Springer Nature Singapore Apr 2016, 2016
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits. This proposed book is unique to explore typical reliability issues in the device and technology level and then to examine their impact on RF wireless transceiver circuit performance. Analytical equations, experimental data, device and circuit simulation results will be given for clear explanation. The main benefit the reader derive from this book will be clear understanding on how device reliability issues affects the RF circuit performance subjected to operation aging and process variations. 112 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9789811008825
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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability (SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology)
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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability (SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology)
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