9783540372363 - structural, syntactic, and statistical pattern recognition: joint iapr international workshops, sspr 2006 and spr 2006, hong kong, china, august ... (lecture notes in computer science, 4109) (15 resultados)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Taschenbuch. Condición: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings | Dit-Yan Yeung (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2006 | Springer | EAN 9783540372363 | Verantwortliche Person für die EU:…Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Yeung, Dit-Yan|Kwok, James T.|Fred, Ana|Roli, Fabio|Ridder, Dick de
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong, August 2006 alon…gside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more.
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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