Isbn: 9783540253037 - lifetime spectroscopy: a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications: 85 (springer series in materials science, 85) (10 resultados)

Lifetime Spectroscopy : A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
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Lifetime Spectroscopy : A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.…

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Lifetime Spectroscopy : A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 2005
Serie: Libro 3 de 233 - Springer Series in Materials Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2005
Serie: Libro 3 de 233 - Springer Series in Materials Science
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. A convincing demonstration of a powerful characterization methodA convincing demonstration of a powerful characterization method10/99 Gustav-Mie-Preis awarded for the diploma thesis by the Faculty of Physics at Albert-Ludwigs-University .…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer Berlin Heidelberg Jun 2005, 2005
Serie: Libro 3 de 233 - Springer Series in Materials Science
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy. 520 pp. Englisch.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Jun 2005, 2005
Serie: Libro 3 de 233 - Springer Series in Materials Science
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 520 pp. Englisch.…