Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)

Idioma: inglés

Editorial: Springer Verlag, 2005

3540253033 / 9783540253037

Serie: Libro 3 de 233 - Springer Series in Materials Science

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Título
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)
Autor
Stefan Rein
Editorial
Springer Verlag
Año de publicación
2005
Estado
Brand New
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
3540253033
ISBN 13
9783540253037
Peso del artículo
0,86 kilogramos
Serie
Libro 3 de 233: Springer Series in Materials Science

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