Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 2005

3540253033 / 9783540253037

Serie: Libro 3 de 233 - Springer Series in Materials Science

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Título
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Autor
Rein, Stefan
Editorial
Springer
Año de publicación
2005
Estado
New
Encuadernación
hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
3540253033
ISBN 13
9783540253037
Peso del artículo
37 onzas
Dimensiones
6x1x9
Serie
Libro 3 de 233: Springer Series in Materials Science

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