9781584884712 - design and analysis of accelerated tests for mission critical reliability de luvalle, michael j.; lefevre, bruce g.; kannan, sirraman (14 resultados)

- Tapa dura
- Primera edición
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, AlemaniaUniversitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado
EUR 24,00
Envío por EUR 30,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
1st ed. 16 x 24 cm. 248 pages. HC Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
LuValle, Michael J.; Lefevree, Bruce G.; Kannan, Sri Raman; Lefevre, Bruce G.; Kannan, Sriraman
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 70,67
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New.

- Tapa dura
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de AmericaPBShop.store US
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 73,03
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

- Tapa dura
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 79,89
Envío por EUR 5,85Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
LuValle, Michael J.; Lefevree, Bruce G.; Kannan, Sri Raman; Lefevre, Bruce G.; Kannan, Sriraman
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 84,53
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
LuValle, Michael J.; Lefevree, Bruce G.; Kannan, Sri Raman; Lefevre, Bruce G.; Kannan, Sriraman
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 75,31
Envío por EUR 17,48Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New.

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
LuValle, Michael J.; Lefevree, Bruce G.; Kannan, Sri Raman; Lefevre, Bruce G.; Kannan, Sriraman
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 86,43
Envío por EUR 17,48Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

- Tapa dura
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino UnidoTHE SAINT BOOKSTORE
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 86,15
Envío por EUR 18,43Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
LuValle, Michael J. (Author)/ LeFevre, Bruce G. (Author)/ Kannan, SirRaman (Author)
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 95,36
Envío por EUR 11,65Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 248 pages. 9.75x6.75x0.75 inches. In Stock.

- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 105,29
Envío por EUR 3,45Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New. pp. 248.

- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 106,66
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New. pp. 248.

- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 88,98
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Gebunden. Condición: New. Michael J. LuValle, Bruce G. LeFevre, SirRaman KannanEarly approaches to accelerated testing were based on the assumption that there was a simple acceleration factor that would correspond to a linear scaling of time from the operating stress to the a.

- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 109,98
Envío por EUR 62,38Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Buch. Condición: Neu. Neuware - This book presents innovative theory and methods for recognizing and handling the more complicated, cases often encountered in practice. The theory integrates a physical understanding of underlying phenomena and the statistical modeling of observation 'noise' to provide a single theoretical framew…ork for accelerated testing. The treatment includes general approaches that can be used with various computational software packages and an explicit computing environment in S-PLUS, numerous worked examples, end-of-chapter exercises, and chapter appendices containing technical and theoretical details. Source code written by the authors is included and available for download from the CRC Web site.

- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 91,62
Envío por EUR 7,58Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New. pp. 248 Illus. This item is printed on demand.