Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability.

LuValle, Michael J./LeFevre, Bruce G./Kannan, SirRaman

ISBN 10: 1584884711 ISBN 13: 9781584884712
Editorial: Chapman and Hall/CRC., 2004
Idioma: Inglés
Condición: Usado Encuadernación de tapa dura

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