Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability

Michael J LuValle Bruce G. LeFevre Michael J. LuValle SirRaman Kannan Michael J. Lu Valle Bruce G. Le Fevre Sir Raman Kannan

ISBN 10: 1584884711 ISBN 13: 9781584884712
Editorial: Taylor & Francis Group, 2004
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 22 de noviembre de 2018

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 92,85
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 3 disponibles

Añadir al carrito