9780792366867 - defects in sio2 and related dielectrics: science and technology: 2 (nato science series ii: mathematics, physics and chemistry, 2) (14 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
. Ed(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Editor(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 624 pages, 87 black & white illustrations, biography. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (G) General (US: Trade); (P)… Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 153 x 20. Weight in Grams: 892. . 2000. Softcover reprint of the original 1st ed. 2000. Paperback. . . . .
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands, Springer, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point de…fects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.
Defects in Si02 and Related Dielectrics: Science and Technology
Pacchioni, G. (Editor)/ Skuja, L. (Editor)/ Griscom, D. L. (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Pub, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 632 pages. 9.50x6.50x1.50 inches. In Stock.
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
. Ed(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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Envío por EUR 9,12Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Editor(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 624 pages, 87 black & white illustrations, biography. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (G) General (US: Trade); (P)… Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 153 x 20. Weight in Grams: 892. . 2000. Softcover reprint of the original 1st ed. 2000. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and… medical applications to metal-ox.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands Dez 2000, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly…involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy. 636 pp. Englisch.
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Editorial: Springer, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Taschenbuch. Condición: Neu. Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology | Gianfranco Pacchioni (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2000 | Springer | EAN 9780792366867 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Netherlands, Haberstr. 7, 69126 Heidelberg, buchhandel-buch[at]sprin…ger[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands, Springer Dez 2000, 2000
Serie: Libro 4 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly invo…lve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies.This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 636 pp. Englisch.
