9780780310001 - semiconductor memories: technology, testing, and reliability de sharma, ashok k.; ieee; sharma, md facp facc (31 resultados)

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    Editorial: Wiley & Sons, Incorporated, John 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press 2002

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    Editorial: Wiley 2002

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    Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 480 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.

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    Editorial: John Wiley & Sons 24.09.2002. 2002

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    Condición: Sehr gut. Auflage: 1. 480 Seiten kleine Lagerspuren am Buch, Inhalt einwandfrei und ungelesen Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1030 25,7 x 18,0 x 3,3 cm, Gebundene Ausgabe.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley 2002

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-IEEE Press 2002

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-IEEE Press 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press 2002

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    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

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    Condición: New. In.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-IEEE Press 2002

    0780310004 / 9780780310001

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    Librería: GreatBookPrices, Columbia, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

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    Condición: As New. Unread book in perfect condition.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-IEEE Press 2002

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura

    Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK

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    Condición: Usado - Como Nuevo

    EUR 228,07

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    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: As New. Unread book in perfect condition.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: I.E.E.E.Press 2002

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura
    • Primera edición

    Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.

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    Condición: Nuevo

    EUR 258,57

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    Condición: New. Num Pages: 480 pages, illustrations. BIC Classification: UKS. Category: (UU) Undergraduate. Dimension: 258 x 183 x 29. Weight in Grams: 950. . 2002. 1st Edition. Hardcover. . . . .

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons 2002

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura

    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

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    Condición: Nuevo

    EUR 223,49

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    Gebunden. Condición: New. Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.* Memory cell structures and fabrication technologies.* Application-specif.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: IEEE 1998

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura

    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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    Condición: Nuevo

    EUR 299,14

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    Cantidad disponible: 2 disponibles

    Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 480 pages. 10.50x7.50x1.25 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: IEEE Operations Center 2002

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura

    Librería: Books Puddle, New York, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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    Condición: Nuevo

    EUR 318,10

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    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Condición: New. pp. 480.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: I.E.E.E.Press 2002

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura

    Librería: Kennys Bookstore, Olney, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore

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    EUR 324,07

    Envío por EUR 9,02 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: New. Num Pages: 480 pages, illustrations. BIC Classification: UKS. Category: (UU) Undergraduate. Dimension: 258 x 183 x 29. Weight in Grams: 950. . 2002. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley Sep 2002 2002

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    Condición: Nuevo

    EUR 308,66

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    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 2 disponibles

    Buch. Condición: Neu. Neuware - Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.\* Memory cell structures and fabrication technologies.\* Application-specific memories and architectures.\* Memory…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons Inc, Piscataway NJ 2002

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura
    • Primera edición
    • Impresión bajo demanda

    Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino UnidoCitiRetail

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    Condición: Nuevo

    EUR 218,26

    Envío por EUR 42,85 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Hardcover. Condición: new. Hardcover. Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including. * Memory cell structures and fabrication technologies. * Application-specific memories and architectures. *…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: IEEE 1998

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura
    • Impresión bajo demanda

    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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    EUR 274,80

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    Cantidad disponible: 2 disponibles

    Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 480 pages. 10.50x7.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.