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9780780310001 - Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability de Sharma, Ashok K.; IEEE; Sharma, MD Facp Facc (33 resultados)
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Wiley & Sons, Incorporated, John, 2002
ISBN 10: 0780310004 ISBN 13: 9780780310001
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Semiconductor Memories Technol
Librería: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, Estados Unidos de America
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Semiconductor Memories Technol
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Semiconductor Memories Technol
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: ThriftBooks-Phoenix, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: ThriftBooks-Reno, Reno, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: BookResQ., West Valley City, UT, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritohardcover. Condición: Good. Ex-library book with typical stickers and stampings. Priority Mail is available on this item. No international shipping.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1150grams, ISBN:9780780310001.
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 33,27
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 480 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons 24.09.2002., 2002
ISBN 10: 0780310004 ISBN 13: 9780780310001
Librería: Vulkaneifel Bücher, Birgel, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,99
Envío por EUR 124,40
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Auflage: 1. 480 Seiten kleine Lagerspuren am Buch, Inhalt einwandfrei und ungelesen Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1030 25,7 x 18,0 x 3,3 cm, Gebundene Ausgabe.
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Semiconductor Memories
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 189,96
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 201,94
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Añadir al carritoCondición: New.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 189,50
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Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 189,95
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 203,81
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 229,86
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Semiconductor Memories
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 258,57
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Num Pages: 480 pages, illustrations. BIC Classification: UKS. Category: (UU) Undergraduate. Dimension: 258 x 183 x 29. Weight in Grams: 950. . 2002. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Semiconductor Memories
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 223,49
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.* Memory cell structures and fabrication technologies.* Application-specif.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 298,16
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 480 pages. 10.50x7.50x1.25 inches. In Stock.
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Semiconductor Memories
Idioma: Inglés
Publicado por IEEE Operations Center, 2002
ISBN 10: 0780310004 ISBN 13: 9780780310001
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 318,77
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 480.
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Edición internacionalSEMICONDUCTOR MEMORIES TECHNOLOGY TESTING AND RELIABILITY (HB 1997)
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 321,80
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Semiconductor Memories
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 324,75
Envío por EUR 9,04
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Num Pages: 480 pages, illustrations. BIC Classification: UKS. Category: (UU) Undergraduate. Dimension: 258 x 183 x 29. Weight in Grams: 950. . 2002. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 308,66
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.\* Memory cell structures and fabrication technologies.\* Application-specific memories and architectures.\* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.\* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.\* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.
