9780780310001 - semiconductor memories: technology, testing, and reliability de sharma, ashok k.; ieee; sharma, md facp facc (27 resultados)

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    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

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    Editorial: Wiley, 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

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    Editorial: Wiley, 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

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    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

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    Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: I.E.E.E.Press, 2002

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    • Primera edición

    Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.

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    Condición: New. Num Pages: 480 pages, illustrations. BIC Classification: UKS. Category: (UU) Undergraduate. Dimension: 258 x 183 x 29. Weight in Grams: 950. . 2002. 1st Edition. Hardcover. . . . .

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons, 2002

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    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

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    Gebunden. Condición: New. Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.* Memory cell structures and fabrication technologies.* Application-specif.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: IEEE, 1998

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    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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    Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 480 pages. 10.50x7.50x1.25 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: I.E.E.E.Press, 2002

    0780310004 / 9780780310001

    • Tapa dura

    Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore

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    EUR 330,89

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    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: New. Num Pages: 480 pages, illustrations. BIC Classification: UKS. Category: (UU) Undergraduate. Dimension: 258 x 183 x 29. Weight in Grams: 950. . 2002. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley Sep 2002, 2002

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    • Tapa dura

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Condición: Neu. Neuware - Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.\* Memory cell structures and fabrication technologies.\* Application-specific memories and architectures.\* Memory

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-IEEE Press, 2002

    0780310004 / 9780780310001

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    • Impresión bajo demanda

    Librería: YESIBOOKSTORE, MIAMI, FL, Estados Unidos de AmericaYESIBOOKSTORE

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    hardcover. Condición: As New. This item is printed on demand.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: IEEE Operations Center, 2002

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    • Impresión bajo demanda

    Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books

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    EUR 256,56

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    Condición: New. pp. 480 This item is printed on demand.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons Inc, Piscataway NJ, 2002

    0780310004 / 9780780310001

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    • Primera edición
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    Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino UnidoCitiRetail

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    Hardcover. Condición: new. Hardcover. Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including. * Memory cell structures and fabrication technologies. * Application-specific memories and architectures. *

  • Idioma: Inglés

    Editorial: IEEE, 1998

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    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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    Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 480 pages. 10.50x7.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.