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9780471624639 - Built-In Test For VLSI: Pseudorandom Techniques de Bardell (20 resultados)
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Librería: Bay State Book Company, North Smithfield, RI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 13,49
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: good. The book is in good condition with all pages and cover intact, including the dust jacket if originally issued. The spine may show light wear. Pages may contain some notes or highlighting, and there might be a "From the library of" label. Boxed set packaging, shrink wrap, or included media like CDs may be missing.
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 11,54
Envío por EUR 3,23
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Built-In Test For VLSI: Pseudorandom Techniques.
Librería: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 5,45
Envío por EUR 15,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritogebundene Ausgabe. Condición: Gut. 354 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Text in ENGLISCHER Sprache! Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 650.
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Librería: GoldBooks, Denver, CO, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,99
Envío por EUR 4,73
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: new. New Copy. Customer Service Guaranteed.
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Built In Test for VLSI
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 222,29
Envío por EUR 5,80
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 233,24
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 221,56
Envío por EUR 6,80
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new.
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 220,58
Envío por EUR 17,32
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 237,91
Envío por EUR 13,83
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 243,20
Envío por EUR 17,32
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 265,39
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Built In Test for VLSI
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 295,18
Envío por EUR 7,51
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 368.
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Built In Test for VLSI
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 311,21
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 368.
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Built-In Test For VLSI
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 260,31
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and stud.
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Built-in Test for Very Large Scale Integration
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Ltd, 1987
ISBN 10: 0471624632 ISBN 13: 9780471624639
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 301,19
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. Num Pages: 368 pages, Ill. BIC Classification: TGMT; TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 181 x 26. Weight in Grams: 678. . 1987. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Built In Test for VLSI Pseudorandom Techniques Techn (Prev.Builtin Pseud Test of Digit Cir)
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 342,85
Envío por EUR 14,44
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 368 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Built-in Test for Very Large Scale Integration
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Ltd, 1987
ISBN 10: 0471624632 ISBN 13: 9780471624639
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 378,49
Envío por EUR 9,04
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. Num Pages: 368 pages, Ill. BIC Classification: TGMT; TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 181 x 26. Weight in Grams: 678. . 1987. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Built in Test for VLSI : Pseudorandom Techniques
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 362,30
Envío por EUR 63,62
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - This handbook provides ready access to all of the major concepts, techniques, problems, and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. Until now, the literature in this area has been widely scattered, and published work, written by professionals in several disciplines, has treated notation and mathematics in ways that vary from source to source. This book opens with a clear description of the shortcomings of conventional testing as applied to complex digital circuits, revewing by comparison the principles of design for testability of more advanced digital technology. Offers in-depth discussions of test sequence generation and response data compression, including pseudorandom sequence generators; the mathematics of shift-register sequences and their potential for built-in testing. Also details random and memory testing and the problems of assessing the efficiency of such tests, and the limitations and practical concerns of built-in testing.
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Built In Test for VLSI (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons Inc, New York, 1987
ISBN 10: 0471624632 ISBN 13: 9780471624639
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición Impresión bajo demanda
EUR 253,34
Envío por EUR 42,73
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. This handbook provides ready access to all of the major concepts, techniques, problems, and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. Until now, the literature in this area has been widely scattered, and published work, written by professionals in several disciplines, has treated notation and mathematics in ways that vary from source to source. This book opens with a clear description of the shortcomings of conventional testing as applied to complex digital circuits, revewing by comparison the principles of design for testability of more advanced digital technology. Offers in-depth discussions of test sequence generation and response data compression, including pseudorandom sequence generators; the mathematics of shift-register sequences and their potential for built-in testing. Also details random and memory testing and the problems of assessing the efficiency of such tests, and the limitations and practical concerns of built-in testing. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Built In Test for VLSI Pseudorandom Techniques Techn (Prev.Builtin Pseud Test of Digit Cir)
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 320,97
Envío por EUR 14,44
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 368 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
