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Sinopsis
This handbook provides ready access to all of the major concepts, techniques, problems, and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. Until now, the literature in this area has been widely scattered, and published work, written by professionals in several disciplines, has treated notation and mathematics in ways that vary from source to source. This book opens with a clear description of the shortcomings of conventional testing as applied to complex digital circuits, revewing by comparison the principles of design for testability of more advanced digital technology. Offers in-depth discussions of test sequence generation and response data compression, including pseudorandom sequence generators; the mathematics of shift-register sequences and their potential for built-in testing. Also details random and memory testing and the problems of assessing the efficiency of such tests, and the limitations and practical concerns of built-in testing.
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Acerca del autor
Paul H. Bardell and W. H. McAnney are the authors of Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques, published by Wiley.
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Publicado por
Wiley-Interscience, 1987
ISBN 10: 0471624632
ISBN 13: 9780471624639
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Built in Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
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Wiley-Interscience, 1987
ISBN 10: 0471624632
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Built in Test for VLSI : Pseudorandom Techniques
Publicado por
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1987
ISBN 10: 0471624632
ISBN 13: 9780471624639
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
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Wiley-Interscience, 1987
ISBN 10: 0471624632
ISBN 13: 9780471624639
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Built-In Test For VLSI: Pseudorandom Techniques.
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John Wiley & Sons, 1987
ISBN 10: 0471624632
ISBN 13: 9780471624639
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
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Built In Test for VLSI
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
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