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9780128007471 - Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models de Bernstein, Joseph (20 resultados)
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science & Technology, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Librería: Better World Books: West, Reno, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,35
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,78
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 108 23:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Idioma: Inglés
Publicado por Academic Press 2014-03-10, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 45,56
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Publishing Co Inc, US, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 70,46
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New. This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Publishing Co Inc, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,06
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Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 62,51
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,03
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,31
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Bernstein, J: Reliability Prediction from Burn-In Data Fit t
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 70,21
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Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. The ability to include reliability calculations and test results in their product design The ability to use reliability data provided to them by their suppliers to make meaningful reliability predictions Have accurate failure rate.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Publishing Co Inc, US, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 65,39
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New. This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 141,30
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models | Joseph Bernstein | Taschenbuch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2014 | Academic Press | EAN 9780128007471 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 48,01
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Añadir al carritoCondición: new. Questo è un articolo print on demand.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 49,71
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 97 pages. 8.75x6.00x0.50 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Publishing Co Inc, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 76,60
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Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,12
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design.
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Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2014
ISBN 10: 0128007478 ISBN 13: 9780128007471
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 150,00
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