William m geiger (23 resultados)
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St. Thomas Aquinas 1274-1974, Commemorative Studies
Gilson, Etienne (Foreword); Edmund Colledge, Angelus Walz, Francis J. Lescoe, L.J. Bataillon, C.M. Joris Vansteenkiste, Antoine Dondaine, Anton C. Pegis, Yves Congar, L.B. Geiger, Joseph Owens, Vernon J. Bourke, Michael Bertram Crowe, Gerard Verbeke, Jaroslav Pelikan, Jean Chatillon, Louis Gardet, Georges Anawati, James A. Weisheipl; Beryl Smalley, William Dunphy, John Francis Quinn, Ignatius Brady, Marie-Therese d'Alverny, Edward A. Synan; Leonard E. Boyle, Armand A. Maurer, William A. Wallace, Pierre M.de Contenson, M.D. Chenu, Henry Veatch, Cornelio Fabro, Bernhard Lakebrink, E.L. Mascall
Editorial: Pontifical Institute of Mediaeval Studies, 1974
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Condición: New. This book provides analytical and industrial chemists with up-to-date coverage of the advances in measurement technology in gas analysis. Editor(s): Raynor, Mark W.; Geiger, William M. Num Pages: 386 pages, illustrations. BIC Classification: PNF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 239 x 156 x 28.… Weight in Grams: 706. . 2013. Hardback. . . . .
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 386 pages. 9.30x6.30x1.10 inches. In Stock.
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Gebunden. Condición: New. WILLIAM M. GEIGER, B.S., is Senior Partner of CONSCI, LTD, an independent service provider. He is responsible for implementation of analytical technology as it relates to gas analysis, including method development, turn-key instrumentation for customers, an.
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Condición: New. This book provides analytical and industrial chemists with up-to-date coverage of the advances in measurement technology in gas analysis. Editor(s): Raynor, Mark W.; Geiger, William M. Num Pages: 386 pages, illustrations. BIC Classification: PNF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 239 x 156 x 28.… Weight in Grams: 706. . 2013. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Buch. Condición: Neu. Neuware - Explores the latest advances and applications of specialty and electronic gas analysis The semiconductor industry depends upon a broad range of instrumental techniques in order to detect and analyze impurities that may be present in specialty and electronic gases, including permanent gases, water…vapor, reaction by-products, and metal species. Trace Analysis of Specialty and Electronic Gases draws together all the latest advances in analytical chemistry, providing researchers with both the theory and the operating principles of the full spectrum of instrumental techniques available for specialty and electronic gas analysis. Moreover, the book details the advantages and disadvantages of each technique, steering readers away from common pitfalls. Featuring contributions from leading analytical and industrial chemists, Trace Analysis of Specialty and Electronic Gases covers a wide range of practical industrial applications. The book begins with the historical development of gas analysis and then focuses on particular subjects or techniques such as: Metals sampling and ICP-MS analysis Improvements in FTIR spectroscopy Water vapor analysis techniques New infrared laser absorption spectroscopy approaches GC/MS, GC/AED, and GC-ICP-MS techniques Gas chromatography columns Atmospheric pressure ionization mass spectrometry Lastly, the book examines gas mixtures and standards that are critical for instrument calibration. There are also two appendices offering information on fittings and material compatibility. With its thorough review of the literature and step-by-step guidance, Trace Analysis of Specialty and Electronic Gases enables researchers to take full advantage of the latest advances in gas analysis. Although the book's focus is the semiconductor and electronics industry, analytical chemists in other industries facing challenges with such issues as detection selectivity and sensitivity, matrix gas interference, and materials compatibility will also discover plenty of useful analytical approaches and techniques.
Más imágenesThomas Jefferson Memorial Lectures (Adams State College---Alamosa, Colorado)
Carter, Harvey L.; Dabney, William M.; Geiger, Louis G., Fredricks, Shirley; Rugg, Glennys; Ashby, Le Roy; Carter, Carrol Joe; Reddin, Paul; Storey, Brit Allan; Peterson, Norma L.; Nash, Angeline Myers; Leader, Jeanne P.; Wood, James C.; Gillson, Gordon
Editorial: Adams State College 1969-82, Alamosa, CO, 1969
Librería: Bungalow Books, ABAA, Pueblo, CO, Estados Unidos de AmericaBungalow Books, ABAA
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Añadir al carritoPamphlet. Condición: Very Good. Numbered. 14 pamphlets from 1969-1982, each one numbered 9 of 250 numbered copies. Creasing to the covers. A series of lectures presented on the occasion of the celebration of the Anniversary of the birth of Thomas Jefferson. The issue from 1970 is a Memorial Program with a list of participants, a…nd important dates in Jefferson's life. The issue from 1975 features the found poems of Angeline Myers Nash, a pioneer from Illinois who crossed the frontier and settled in Monte Vista, Colorado, 1888. Adams and the Ku Klux Klan by Carrol Joe Carter describes the battle William H. Adams had with the Klan while he was Governor of Colorado. Two non Jefferson series pamphlets are part of the 14 total; A New Isolationism by Fred A. Sondermann and a scarce 1974 feminist lecture, Women Can Turn the World Right Side Up by Marcia R. Luce.
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Condición: New. pp. 386 Figures This item is printed on demand.
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 386 pages. 9.30x6.30x1.10 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Hardcover. Condición: new. Hardcover. Explores the latest advances and applications of specialty and electronic gas analysis The semiconductor industry depends upon a broad range of instrumental techniques in order to detect and analyze impurities that may be present in specialty and electronic gases, including permanent gases,…water vapor, reaction by-products, and metal species. Trace Analysis of Specialty and Electronic Gases draws together all the latest advances in analytical chemistry, providing researchers with both the theory and the operating principles of the full spectrum of instrumental techniques available for specialty and electronic gas analysis. Moreover, the book details the advantages and disadvantages of each technique, steering readers away from common pitfalls. Featuring contributions from leading analytical and industrial chemists, Trace Analysis of Specialty and Electronic Gases covers a wide range of practical industrial applications. The book begins with the historical development of gas analysis and then focuses on particular subjects or techniques such as: Metals sampling and ICP-MS analysisImprovements in FTIR spectroscopyWater vapor analysis techniquesNew infrared laser absorption spectroscopy approachesGC/MS, GC/AED, and GC-ICP-MS techniquesGas chromatography columnsAtmospheric pressure ionization mass spectrometry Lastly, the book examines gas mixtures and standards that are critical for instrument calibration. There are also two appendices offering information on fittings and material compatibility. With its thorough review of the literature and step-by-step guidance, Trace Analysis of Specialty and Electronic Gases enables researchers to take full advantage of the latest advances in gas analysis. Although the book's focus is the semiconductor and electronics industry, analytical chemists in other industries facing challenges with such issues as detection selectivity and sensitivity, matrix gas interference, and materials compatibility will also discover plenty of useful analytical approaches and techniques. This book provides analytical and industrial chemists with up-to-date coverage of the advances in measurement technology in gas analysis. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
