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Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,99
Envío por EUR 2,29
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Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,38
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Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 146,10
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 147,64
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 402.
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Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 143,83
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,24
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,24
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,69
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,85
Envío por EUR 2,29
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,23
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Nature Switzerland, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,15
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy | Anwar Ul-Hamid | Taschenbuch | xxii | Englisch | 2019 | Springer Nature Switzerland | EAN 9783030074982 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,52
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
Envío por EUR 63,20
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
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A Beginners* Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 176,58
Envío por EUR 28,96
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New. New. book.
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A Beginners\ Guide to Scanning Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin|Springer, 2018
ISBN 10: 3319984810 ISBN 13: 9783319984810
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 177,54
Envío por EUR 48,99
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Añadir al carritoCondición: New. This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a .
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 237,88
Envío por EUR 14,48
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 402 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin, Springer, 2018
ISBN 10: 3319984810 ISBN 13: 9783319984810
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 219,07
Envío por EUR 64,12
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This book provides a concise and accessible introduction to the essentials of SEM includes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key concepts highlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniques offers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
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Practical Engineering Failure Analysis (Mechanical Engineering)
Libro 57 de 115: Mechanical EngineeringLibrería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 377,90
Envío por EUR 17,94
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
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Practical Engineering Failure Analysis
Libro 57 de 115: Mechanical EngineeringLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 380,86
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Practical Engineering Failure Analysis
Libro 57 de 115: Mechanical EngineeringLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 404,49
Envío por EUR 2,29
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Practical Engineering Failure Analysis
Libro 57 de 115: Mechanical EngineeringLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 446,46
Envío por EUR 2,29
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Tawancy, H: Practical Engineering Failure Analysis
Libro 57 de 115: Mechanical EngineeringLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 405,42
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Hani M. Tawancy, Anwar Ul-Hamid, Nureddin M. AbbasFilling a gap in the literature, Practical Engineering Failure Analysis vividly demonstrates the correct methodology to conduct successful failure analyses, as well as offering the background nec.
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Practical Eng Failure Analysis
Libro 57 de 115: Mechanical EngineeringIdioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2004
ISBN 10: 0824757424 ISBN 13: 9780824757427
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 470,74
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 616 1st Edition.
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Practical Engineering Failure Analysis
Libro 57 de 115: Mechanical EngineeringLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 462,91
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Practical Engineering Failure Analysis (Mechanical Engineering)
Libro 57 de 115: Mechanical EngineeringLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 453,38
Envío por EUR 28,96
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Practical Eng Failure Analysis
Libro 57 de 115: Mechanical EngineeringIdioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2004
ISBN 10: 0824757424 ISBN 13: 9780824757427
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 497,07
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 616.
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A beginners' guide to scanning electron microscopy. [Corrected edition].
Librería: Antiquariaat A. Kok & Zn. B.V., Amsterdam, Holanda
Miembro de asociación: ILAB NVVA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,50
Envío por EUR 28,27
Se envía de Holanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carrito[CAm], Springer International Publishing, [2023]. XXII,402 pp. 122 b./w. ills & 98 ills in col. Orig. hardcover (boards). 8vo. [ISBN: 978-3-319-98481-0]. - As new !This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. - Corrected 2023 edition. First published in 2023.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 94,25
Envío por EUR 6,80
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new. Questo è un articolo print on demand.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
Envío por EUR 23,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds. 424 pp. Englisch.
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A Beginners\ Guide to Scanning Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 98,54
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Anwar Ul-Hamid received his B.Sc. in Metallurgical Engineering and Materials Science at the University of Engineering & Technology in Lahore, Pakistan in 1991. He received his Ph.D, for Oxidation of High Temperature alloys/Analytical Electro.
