Anwar ul hamid (30 resultados)
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Condición: New. pp. 402.
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Taschenbuch. Condición: Neu. A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy | Anwar Ul-Hamid | Taschenbuch | xxii | Englisch | 2019 | Springer Nature Switzerland | EAN 9783030074982 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbie…ter: preigu.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemis…try of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Paperback. Condición: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Condición: New. This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a .
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 402 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 219,07
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Buch. Condición: Neu. Neuware - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic ma…terials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This book provides a concise and accessible introduction to the essentials of SEM includes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key concepts highlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniques offers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2004
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 407,69
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Gebunden. Condición: New. Hani M. Tawancy, Anwar Ul-Hamid, Nureddin M. AbbasFilling a gap in the literature, Practical Engineering Failure Analysis vividly demonstrates the correct methodology to conduct successful failure analyses, as well as offering the background nec.
Practical Engineering Failure Analysis
Tawancy, Hani M.; Ul-Hamid, Anwar (EDT); Nureddin, Abbas M.; Abbas, Nureddin Mohamed
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2004
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 548,52
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Condición: New.
Practical Engineering Failure Analysis
Tawancy, Hani M.; Ul-Hamid, Anwar (EDT); Nureddin, Abbas M.; Abbas, Nureddin Mohamed
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2004
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EUR 600,56
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Practical Engineering Failure Analysis
Tawancy, Hani M.; Ul-Hamid, Anwar (EDT); Nureddin, Abbas M.; Abbas, Nureddin Mohamed
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2004
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 597,65
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Condición: New.
Practical Engineering Failure Analysis (Mechanical Engineering)
Hani M. Tawancy, Anwar Ul-Hamid, Nureddin M. Abbas, Lynn Faulkner
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press 2004-08-30, 2004
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Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
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EUR 572,79
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Hardcover. Condición: New.
Practical Engineering Failure Analysis
Tawancy, Hani M.; Ul-Hamid, Anwar (EDT); Nureddin, Abbas M.; Abbas, Nureddin Mohamed
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2004
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 935,17
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2004
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EUR 686,48
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Condición: New. pp. 616 1st Edition.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2004
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 750,19
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Condición: New. pp. 616.
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2004
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EUR 881,63
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Librería: Antiquariaat A. Kok & Zn. B.V., Amsterdam, HolandaAntiquariaat A. Kok & Zn. B.V.
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Añadir al carrito[CAm], Springer International Publishing, [2023]. XXII,402 pp. 122 b./w. ills & 98 ills in col. Orig. hardcover (boards). 8vo. [ISBN: 978-3-319-98481-0]. - As new !This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no backgroun…d in the area. - Corrected 2023 edition. First published in 2023.
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Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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Condición: new. Questo è un articolo print on demand.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface stru…cture and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds. 424 pp. Englisch.
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EUR 98,54
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Anwar Ul-Hamid received his B.Sc. in Metallurgical Engineering and Materials Science at the University of Engineering & Technology in Lahore, Pakistan in 1991. He received his Ph.D, for Oxidation of High T…emperature alloys/Analytical Electro.
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Condición: New. Print on Demand pp. 402.
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Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 402.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structur…e and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds¿including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academiäemphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 424 pp. Englisch.
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Editorial: Taylor & Francis Group, 2004
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