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International Money and Banking
Idioma: Inglés
Publicado por Intl Thomson Business Pr (edition ), 1993
ISBN 10: 0415059445 ISBN 13: 9780415059442
Librería: BooksRun, Philadelphia, PA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 7,70
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Añadir al carritoMisc. Supplies. Condición: Very Good. It's a well-cared-for item that has seen limited use. The item may show minor signs of wear. All the text is legible, with all pages included. It may have slight markings and/or highlighting.
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China's Arms Acquisitions from Abroad: A Quest for Superb and Secret Weapons
Idioma: Inglés
Publicado por Stockholm International Peace Research Instit, 1996
ISBN 10: 0198291965 ISBN 13: 9780198291961
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 14,25
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Añadir al carritoPaperback. Condición: As New. No Jacket. Pages are clean and are not marred by notes or folds of any kind. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,03
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques (Paperback or Softback)
Idioma: Inglés
Publicado por Biblioscholar 11/21/2012, 2012
ISBN 10: 1288327676 ISBN 13: 9781288327676
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,38
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China's Arms Acquisitions from Abroad: A Quest for 'Supreb and Secret Weapons'
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,93
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 1st edition. 176 pages. 8.75x5.50x0.75 inches. In Stock.
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,44
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 18,44
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International Money and Banking
Librería: NEPO UG, Rüsselsheim am Main, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 25,38
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Gut. 384 Seiten ex Library Book aus einer wissenschaftlichen Bibliothek Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 469.
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,38
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Añadir al carritoCondición: New. KlappentextrnrnThe purposes of this research were: (1) the modeling of a CID situation and (2) the search for robust and controllable input variable settings. The inputs were defined as controllable and noise variables and the confusion matrices.
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Idioma: Inglés
Publicado por Biblioscholar Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1288327676 ISBN 13: 9781288327676
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 25,55
Envío por EUR 61,23
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - The purposes of this research were: (1) the modeling of a CID situation and (2) the search for robust and controllable input variable settings. The inputs were defined as controllable and noise variables and the confusion matrices in ROC theory were adapted to act as controllable factors. In this research a simple virtual battlespace representation is employed. The experimental results of the CID system are summarized by a posterior confusion matrix and throughout the confusion matrix analysis we can obtain all various types of data such as accuracy, error cost, error rates, and so forth. To find the optimal parameters three evaluation techniques were applied: (1) Linearly constrained discrete optimization, (2) Taguchi's S|N ratio method and (3) Robust parameter design with a combined array. The results are compared and contrasted across different objective functions.
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Idioma: Inglés
Publicado por British Library, Historical Print Editions, 2012
ISBN 10: 1288327676 ISBN 13: 9781288327676
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 20,62
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Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Engineering Mathematics with MATLAB
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 105,13
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Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 18,45
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Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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International Money and Banking
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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ENGINEERING MATHEMATICS WITH MATLAB
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2018
ISBN 10: 1138059331 ISBN 13: 9781138059337
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 121,11
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 110,61
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 124,36
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Añadir al carritohardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 101,10
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ENGINEERING MATHEMATICS WITH MATLAB
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2018
ISBN 10: 1138059331 ISBN 13: 9781138059337
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 128,16
Envío por EUR 3,43
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Electronic Circuits with MATLAB, PSpice, and Smith Chart
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 118,55
Envío por EUR 13,83
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 131,91
Envío por EUR 2,27
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ENGINEERING MATHEMATICS WITH MATLAB
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2018
ISBN 10: 1138059331 ISBN 13: 9781138059337
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 123,18
Envío por EUR 9,95
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Electronic Circuits with MATLAB, PSpice, and Smith Chart
Librería: Ubiquity Trade, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 148,54
Envío por EUR 2,58
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,96
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,96
Envío por EUR 13,83
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Applied Numerical Methods Using MATLAB
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 181,33
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,16
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Applied Numerical Methods Using MATLAB
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 197,76
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 198,79
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 424.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In : A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,24
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 428 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The international market is very competitive for high-tech manufacturers to day. Achieving competitive quality and reliability for products requires leader ship from the top, good management practices, effective and efficient operation and maintenance systems, and use of appropriate up-to-date engineering de sign tools and methods. Furthermore, manufacturing yield and reliability are interrelated. Manufacturing yield depends on the number of defects found dur ing both the manufacturing process and the warranty period, which in turn determines the reliability. the production of microelectronics has evolved into Since the early 1970's, one of the world's largest manufacturing industries. As a result, an important agenda is the study of reliability issues in fabricating microelectronic products and consequently the systems that employ these products, particularly, the new generation of microelectronics. Such an agenda should include: ¿ the economic impact of employing the microelectronics fabricated by in dustry, ¿ a study of the relationship between reliability and yield, ¿ the progression toward miniaturization and higher reliability, and ¿ the correctness and complexity of new system designs, which include a very significant portion of software.
