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COMPOSITIONAL INHOMOGENEITIES IN GaAs1-XPX ALLOY EPITAXIAL LAYERS
Publicado por J Applied Physics, 1968
Librería: Larry W Price Books, Portland, OR, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Revista / Publicación
EUR 6,20
Envío por EUR 4,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPamphlet. Condición: Very Good. Vol 39, No 13, pp. 5943-5948, Illus, Extracted from orig vol, thus begins with title page, trimmed & stapled pamphlet, else VG.
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FRONTINUS' LEGACY: ESSAYS ON FRONTINUS' DE AQUIS URBIS ROMAE.
Idioma: Inglés
Publicado por University Of Michigan Press, Ann Arbor, 2001
ISBN 10: 0472067931 ISBN 13: 9780472067930
Librería: Any Amount of Books, London, Reino Unido
Miembro de asociación: ABA ILAB PBFA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 23,74
Envío por EUR 21,32
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoSoft cover. 8vo. pp xi, 170. Large format paperback. ISBN: 0472067931 Fine.
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Frontinus` Legacy Essays on Frontinus` de aquis urbis Romae
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 43,51
Envío por EUR 11,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 170 pages. 8.75x6.00x0.50 inches. In Stock.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 36
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 61,11
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Añadir al carritoCondición: New.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35A and 35B
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,69
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Añadir al carritoCondición: Good. 2 Volumes, 1334 pp., hardcover, ex library, else text and bindings clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Advances In X - Ray Analysis
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 66,00
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ADVANCES IN X - RAY ANALYSIS
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 66,00
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Advances In X - Ray Analysis
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 68,69
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A Practical Guide for the Preparation of Specimens for X-Ray Fluorescence and X-Ray Diffraction Analysis.
Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 48,48
Envío por EUR 20,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Sehr gut. 331 p., with figures, As library copy in very good condition. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 845.
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A Practical Guide for the Preparation of Specimens for X-Ray Fluorescence and X-Ray Diffraction Analysis
Librería: Sunshine State Books, Lithia, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 68,29
Envío por EUR 5,70
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Very Good. Hardback--slight foxing on outer page edge--otherwise, no flaws.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 36
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,28
Envío por EUR 13,80
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,28
Envío por EUR 13,80
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Advances in X-Ray Analysis: 36
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,19
Envío por EUR 17,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,19
Envío por EUR 17,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoPF. Condición: New.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 70,41
Envío por EUR 7,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 1334.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 75,66
Envío por EUR 3,48
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 1334 1st Edition.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 71,44
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 1334.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 85,82
Envío por EUR 3,48
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 648.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 89,38
Envío por EUR 3,48
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 712.
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Advances In X-Ray Analysis
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,09
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Edición internacionalAdvances In X-Ray Analysis
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 105,47
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 38
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,65
Envío por EUR 3,93
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Very Good. 813 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight (lacks dust jacket). - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Photos available upon request.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 93,11
Envío por EUR 13,80
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,32
Envío por EUR 13,80
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Advances in X-Ray Analysis | Volume 36
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,25
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 36 | John V. Gilfrich (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2012 | Springer US | EAN 9781461362937 | Verantwortliche Person für die EU: Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, productsafety[at]springernature[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,35
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 118,39
Envío por EUR 7,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 123,38
Envío por EUR 3,48
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 932.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,89
Envío por EUR 65,50
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 118,93
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 932.
