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Advances in X-Ray Analysis
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Advances in X-Ray Analysis (eng)
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
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Advances in X-Ray Analysis
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Advances in X-Ray Analysis
Publicado por
Springer US Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1461365325
ISBN 13: 9781461365327
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Advances in X-Ray Analysis
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B
Publicado por
Springer-Verlag New York Inc., 2012
ISBN 10: 1461365325
ISBN 13: 9781461365327
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Advances in X-Ray Analysis
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrum. Nº de ref. del artículo: 4194709
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Advances in X-Ray Analysis
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Advances in X-Ray Analysis
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index. Nº de ref. del artículo: 9781461365327
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